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菲希爾X射線FISCHERSCOPE X-RAY XDL230的詳細(xì)資料:
品牌 | Helmut Fischer/德國(guó)菲希爾 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
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產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,制藥/生物制藥,綜合 |
菲希爾X射線FISCHERSCOPE X-RAY XDL230
?? 突破性檢測(cè)技術(shù)來襲!FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230 測(cè)厚儀,以微米級(jí)精度重新定義工業(yè)質(zhì)檢標(biāo)準(zhǔn)!?
? 閃電測(cè)量
? 多層鍍膜無損分析
? 航空航天/電子/汽車全領(lǐng)域適配
FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230菲希爾X射線鍍層測(cè)厚儀是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線熒光鍍層測(cè)厚及材料分析儀。它非常適用于無損測(cè)量鍍層厚度、材料分析和溶液分析,同時(shí)還能檢測(cè)大規(guī)模生產(chǎn)的零部件及印刷線路板上的鍍層。FISCHERSCOPE X-RAY XDL230有著良好的長(zhǎng)期穩(wěn)定性,這樣就不需要經(jīng)常校準(zhǔn)儀器。比例接收器能實(shí)現(xiàn)高計(jì)數(shù)率,這樣就可以進(jìn)行高精度測(cè)量。由于采用了FISCHER基本參數(shù)法,因此無論是對(duì)鍍層系統(tǒng)還是對(duì)固體和液體樣品,儀器都能在沒有標(biāo)準(zhǔn)片的情況下進(jìn)行測(cè)量和分析。XDL 230特別適用于客戶進(jìn)行質(zhì)量控制、進(jìn)料檢驗(yàn)和生產(chǎn)流程監(jiān)控。
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